Pregatire probe SEM si TEM

Cauti un SEM sau FIB-SEM?

MACINARE IONICA

Pregatire probe TEM prin macinare cu Argon

UNIMILL

Sistem complet automat pentru macinarea ionica a probelor TEM/XTEM.

DETALII

GENTLE MILL

Gentle Mill, model IV8 pentru polisare finala si curatare probe.

DETALII

PROBA DE CALIBRARE

Proba standard de calibrare TEM.

DETALII

SEMPREP 2

SEMPrep 2 este utilizat pentru pregatirea de inalta calitate a suprafetelor pentru analiza SEM.

DETALII

Pregatire mecanica a probelor

MICROSAW

Instrument de taiat de inalta precizie

DETALII

MICROHEAT

Lipire termoplastica sub stereo-microscop.

DETALII

MICROPOL

Sistem de polisare pentru TEM si probe SEM mici

DETALII

HSS TOOL

Scule de mana speciale

DETALII

Curatare cu plasma

TEM Plasma Cleaning

To play, press and hold the enter key. To stop, release the enter key.

Curatare cu plasma pentru SEM si TEM

Sistemele de curatare cu plasma pentru TEM sunt automate si se livreaza cu adaptoare pentru toate holderele uzuale TEM. Puterea plasmei este variabila in domeniul 0-100W, ducand la un proces controlabil si gentil.

Operare la putere mica
Introducere frontala a holderului TEM
Curatare grile TEMsau stuburi SEM multiple
Port dual pentru O2/Ar si alte gaze

DETALII